课程介绍 INTRODUCE
两天课程 帮助理解测量系统的统计特性，认识测量系统对过程控制中数据收集的影响。采用在教员引导下的练习，使学员学会偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性分析的实践经验，具备开展测量系统分析和改进的能力。
学员背景要求：
具有统计过程控制的经验；具备一定的计算能力；了解统计假设检验的知识；带计算器。
| 参加人员： | 培训教材： |
|---|
| 本教程适用于那些直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。 | 每位参加人员将获得一套培训手册。学员自带具有统计功能的计算器。 |
奥曼克是全球汽车行业AIAG发布MSA手册第四版的主要编委。我们结合奥曼克二十五年以上的汽车行业和相关制造业的经验，通过奥曼克丰富的实际案例，讲解MSA在实际生产制造和检验中的应用和要求。
学员带着零件和量具参加培训；主要讲解MSA过程中的难点，包括如何做测量系统的分析计划、如何选择零件、如何做到一次盲测、如何判定、如何改进；介绍MSA第四版与第三版中判定准则的差异（采用统计假设测验）；提供了对计数类量具的测量评价方法；对于性能测试、破坏性试验等如何研究他们的稳定性。
定义测量系统、理解测量系统变差及其来源；
确定测量系统分析的范围、资源、人员需求，制订分析计划；
具备基本的运算能力，以评价测量系统存在的偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性、准确度和精确度；
通过测量系统分析，提高选用、维护和改进测量系统有效性的能力；
满足IATF16949和MSA手册等的要求；
课程大纲 OUTLINE
第一章 测量系统概述 - 测量的定义
- 测量系统的定义
- 理想的测量系统
- 测量系统的变差来源；（PISMOEA模型）
- 测量系统误差的影响（对产品检验、对过程控制）
- 测量系统分析的概念
第二章 测量系统的几个基本特性 - 测量系统误差（准确度和精确度）的概念
- 测量系统的几个基本特性（分辨力、偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性）
- 测量不确定度的概念
第三章 测量系统的策划和测量系统分析计划 - 测量系统的策划（APQP、FMEA、测量计划、量具的配备、量具的设计、采购或制造、测量系统分析计划、测量系统分析）
- TS等标准对MSA的要求
第四章 计量型测量系统的分析方法和判断准则 - 偏倚的分析方法与判断准则
- 线性的分析方法与判断准则
- 稳定性的分析方法与判断准则
- GRR的分析方法与判断准则；（极差法、均值极差法、方差分析法）
| 第五章 计数型测量系统的分析方法和判断准则 - 计数型测量系统的小样法简介
- 计数型测量系统的风险分析法；（Kappa）
- 计数型测量系统的信号探测法
- 计数型测量系统的解析法
第六章 破坏型测量系统的分析方法和判断准则 ★ 附表及附录 ★ 练习（课程中） - 练习一：测量系统理解练习
- 练习二：测量系统分析计划练习
- 练习三：偏倚分析练习
- 练习四：GR&R练习
- 练习五：Kappa值计算练习
- 练习六：风险分析法练习
★ MSA第四版新版的主要更新 - 澄清MSA和校准的关系
- 更清晰的定义测量决策
- 改进了偏倚和线性内容
- 重写了高级的MSA技术（包括破坏型实验）
- 偏倚和线性研究
- 基于标准偏差的研究
- 可重复性分析
- 基于目标Pp的GRR 分析
- NDC 定义和更新
- 计数型分析的更新
- Test Stands
- 强调了现有的概念
- 测量的不确定度和MSA
- APQP 和MSA的关系
- 强调了系统的模式
- 测量源的开发
|
测量系统分析（MSA）培训课程表 | 开始 | 结束 | 时长 | 净时 |
第1天 | | | | |
欢迎词和课程介绍 | 08:30 上午 | 09:00 上午 | 30 | 30 |
第1章 测量系统概述 | 09:00 上午 | 09:45 上午 | 45 | 45 |
课间休息 | 09:45 上午 | 10:00 上午 | 15 | |
小组练习1：测量系统理解练习 | 10:00 上午 | 10:30 上午 | 30 | 30 |
第2章 测量系统的几个基本特性 | 10:30 上午 | 11:00 上午 | 30 | 30 |
第3章 测量系统的策划和测量系统分析计划 | 11:00 上午 | 11:45 上午 | 45 | 45 |
午餐 | 11:45 上午 | 12:45 下午 | 60 | |
小组练习2：测量系统分析计划练习 | 12:45 上午 | 01:15 下午 | 30 | 30 |
第4章 计量型测量系统的分析方法和判断准则 分辨率和不确定度 | 01:30 下午 | 02:15 下午 | 45 | 45 |
课间休息 | 02:15 下午 | 02:30 下午 | 15 | |
第4章 计量型测量系统的分析方法和判断准则 偏倚、线性和稳定性 | 02:30 下午 | 03:45 下午 | 75 | 75 |
课间休息 | 03:45 下午 | 04:00 下午 | 15 | |
小组练习3：偏倚分析练习 | 04:00 下午 | 04:45 下午 | 45 | 45 |
第一天总结 | 04:45 下午 | 05:00 下午 | 15 | 15 |
第1天总时长 | | | 08:30 | 06:45 |
第2天 | | | | |
第4章 计量型测量系统的分析方法和判断准则 GR&R研究 | 08:30 上午 | 09:15 上午 | 45 | 45 |
小组练习4：GR&R练习 | 09:15 上午 | 10:00 上午 | 45 | 45 |
第4章 计量型测量系统的分析方法和判断准则 ANOVA-高级分析 | 10:00 上午 | 10:30 上午 | 30 | 30 |
课间休息 | 10:30 上午 | 10:45 上午 | 15 | |
第5章 计数型测量系统的分析方法和判断准则 小样法、风险分析法 | 10:45 上午 | 11:45 上午 | 60 | 60 |
午餐 | 11:45 上午 | 12:45 下午 | 60 | |
小组练习5：Kappa值计算练习 | 12:45 下午 | 01:45 下午 | 60 | 60 |
第5章 计数型测量系统的分析方法和判断准则 信号探测法、解析法 | 01:45 下午 | 02:30 下午 | 45 | 45 |
课间休息 | 02:30 下午 | 02:45 下午 | 15 | |
小组练习6：风险分析法练习 | 02:45 下午 | 03:15 下午 | 30 | 30 |
第6章 破坏型测量系统的分析方法和判断准则 | 03:15 下午 | 04:15 下午 | 60 | 60 |
课间休息 | 04:15 下午 | 04:30 下午 | 15 | |
提问及解答 | 04:30 下午 | 05:00 下午 | 30 | 30 |
第2天总时长 | | | 08:30 | 06:45 |
课程总时长 | | | 17:00 | 13:30 |
培训方法：
小组练习：–通过小组练习来提高对培训内容的了解，掌握MSA的理解和应用。
培训评估：–培训评估考虑出勤率及课堂讨论的参与积极性，并包括以下方面：
课堂上积极有意义的提问。
知识的探讨和分享
积极参与小组练习
评分练习：–通过评分练习来了解培训的实际效果，形式为多项选择和问答题。
最终评估：通过最终评估了解培训的整体效果，并策划改进方案
考 试：考试时间为一个小时，开卷考试。70%正确为考试通过标准
证 书：培训评估和考试合格后由奥曼克颁发培训证书
奥曼克MSA课程培训将给以下问题提供解答：
1、测量的本质是什么？测量系统的定义是什么？
2、测量系统的变差来源（PISMOEA）模型如何理解？如何结合本公司实际测量过程分析测量系统的变差来源？
3、测量系统的变差如何影响数据，这种影响程度可以量化吗？为什么要求%GRR≤10%?如何理解下图展示的"实际的Cp"和"观察到的Cp"之间关系？
4、测量系统准确度和精密度的概念？测量系统的五性如何理解？
5、测量系统变差和不确定度的联系和区别是什么？
6、如何做测量系统分析计划，如何明确测量系统分析目的，分析对象、分析时机，分析周期、分析方法、接收准则？
7、如何进行偏倚分析？如何理解偏倚分析的数学理论（t检验）？如何用Minitab进行偏倚分析？如何看Minitab偏倚分析结果？
8、如何进行线性分析？如何理解线性分析的数学理论（回归分析、相关系数）？如何用Minitab进行线性分析？如何看Minitab所做的线性分析结果？
9、如何进行GRR分析？如何理解GRR分析的数学理论（方差分析）？进行GRR分析时如何取样本？如何用图示法分析？如何从以下图形中获得EV、AV、测量人与零件之间的交互作用的定性分析结果？
10、如何对测量系统的%GRR进行定量分析？均值极差法和方差分析法有什么区别？什么是交互作用？
11、如何进行计数型测量系统分析？如何理解Kappa值的含义？Kappa值的数学理论是什么？如何用Minitab进行计数型测量系统分析？
12、如何对计数型测量系统按信号探测法进行分析？什么是解析法？什么是测量系统特性曲线？如何绘制？有何意义？
13、如何对破坏型测量系统进行分析？如何取样？如何用Minitab进行破坏型测量系统分析？
Gregory F. Gruska – 奥曼克美国VP 新版FMEA 4th / SPC 2nd / MSA 4th 手册主要编委 |
 | Mr. Gregory F. Gruska 美国奥曼克公司副总裁 美国AIAG手册FMEA 4th 编委 美国AIAG手册SPC 2nd 编委 美国AIAG手册MSA 4th 编委 美国《马可姆?波里奇国家质量奖》作者 全面过程控制计划(CP)2理论创始人 |  |